早前為大家報導(dǎo)過三星的Exynos處理器存漏洞，令惡意應(yīng)用軟件可對設(shè)備上的內(nèi)存進行讀寫存取，有心人士就可利用該漏洞令裝置出現(xiàn)硬件損壞。

該硬件漏洞出現(xiàn)在三星的Exynos 4210和4412處理器，受影響設(shè)備包括Galaxy S II / III (包括 LTE 版) 、Galaxy Note / Note 2 和 Meizu MX 等等，Alephzain就示范用該漏洞令Galaxy S III不用Odin就可Root機。

近日三星就為受影響裝置推出軟件更新，但部份GALAXY Note 2用戶發(fā)現(xiàn)更新后，裝置耗電量比更新前快得多。

三星為受影響的GALAXY Note 2推出軟件更新修正處理器漏洞問題 (版本為 N7100XXDLL7)，部份用戶表示更新后耗電量有明顯增加，當(dāng)中包括升級前可用7.5個小時，但升級后只可用6.5-7小時、電池續(xù)航縮短5-10%、電池消耗比4.1.1更快、以前可待機超過36小時但現(xiàn)在只能待機24小時。